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表面電阻率試驗(yàn)儀采用全自動(dòng)的操作模式運(yùn)行
點(diǎn)擊次數(shù):1108 更新時(shí)間:2019-08-24
表面電阻率試驗(yàn)儀是既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)Intel公司的大規(guī)模集成電路以及技術(shù),使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍寬,準(zhǔn)確度高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調(diào)。表面電阻率試驗(yàn)儀具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外,還能直接測(cè)量微弱電流。
表面電阻率試驗(yàn)儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體式,測(cè)量與數(shù)據(jù)分析全部通過pc軟件完成,粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系;粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí),描述了粉體在壓縮體積變化過程中,電性能的變化趨勢(shì),采用全自動(dòng)操作模式運(yùn)行,自動(dòng)數(shù)據(jù)分析與管理。四端法測(cè)量模式。
表面電阻率試驗(yàn)儀典型應(yīng)用:
1.測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值
2、測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率
3、測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值
4、測(cè)量絕緣材料電阻(率)
5、光電二極管暗電流測(cè)量
6、物理,光學(xué)和材料研究
表面電阻率試驗(yàn)儀配不同的測(cè)量電極(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。本儀器除能測(cè)電阻外,還能直接測(cè)量微弱電流。
表面電阻率試驗(yàn)儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體式,測(cè)量與數(shù)據(jù)分析全部通過pc軟件完成,粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系;粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí),描述了粉體在壓縮體積變化過程中,電性能的變化趨勢(shì),采用全自動(dòng)操作模式運(yùn)行,自動(dòng)數(shù)據(jù)分析與管理。四端法測(cè)量模式。
表面電阻率試驗(yàn)儀典型應(yīng)用:
1.測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值
2、測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率
3、測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值
4、測(cè)量絕緣材料電阻(率)
5、光電二極管暗電流測(cè)量
6、物理,光學(xué)和材料研究
表面電阻率試驗(yàn)儀配不同的測(cè)量電極(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。本儀器除能測(cè)電阻外,還能直接測(cè)量微弱電流。